原子力显微镜的主要结构包括带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统等。在系统检测成像全过程中，探针和被测样品间的距离始终保持在纳米(10e-9米)量级。当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像。
原子力显微镜(AFM)的测定步骤：
-打开设备电源，检查探针是否安装正确，并校准扫描仪的各个参数。
-准备待测样品，确保其表面平整、干燥，适合进行AFM观察。
-将样品安装在AFM样品台上，确保样品与AFM探针之间有足够的空间。
-使用样品台的高度调节装置，将样品调整到适当的位置。
-根据实验需求选择适当的AFM探针，考虑其弹性常数、共振频率等参数。
-将选择好的探针安装在AFM探针持有器上，并确保安装过程在洁净环境中完成。
-设置扫描模式，如接触模式、非接触模式。
-定义AFM扫描的区域大小以及扫描点数。
-根据需要调整扫描速度，平衡分辨率和扫描时间。
-启动AFM系统，并等待其初始化。
-开始AFM扫描，观察样品表面的拓扑图像。
-记录AFM获得的数据，包括高度、力曲线等。
-保存获得的拓扑图像和其他相关数据。
-使用AFM软件对获得的拓扑图像进行分析，提取表面特征和高度信息。
-根据需要绘制样品表面的剖面图。
-在完成扫描后，停止AFM系统的运行。
-关闭AFM系统并断开电源。
-严禁触摸原子力显微镜的探针，因为探针很容易受到损坏。
-避免任何刮擦、撞击或其它样品的损坏行为。
-避免任何液体或高温、高压等有害物质被迅速添加到样品中。
-使用时请注意观察样品是否有变化，及时检查和维护仪器。
更新时间：2025-03-11
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